[原创]硬盘坏了到底是谁的错？~~（顺便说说电源的问题）

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最初由 踩姑娘的小蘑菇 发布


难道ED/EM的使用就是超过硬盘承受能力的？如果8是，你为什么那么肯定ED/EM会导致硬盘出问题？

高负荷状态下更容易让有潜在问题的硬盘问题彻底暴露出来，但这就能说明IDE硬盘一定会在全负荷下出问题吗？

还有，8知道你们概念上的硬盘超负荷工作是指什么？磁头不停的读写吗？

硬盘就算你只通电不接数据线一样会发热，硬盘发热的主要来源于硬盘马达。7200转较5400转的温度就高很多~~~

如果说频繁读写就会导致硬盘出问题，那不要用就不止ED/EM了。很多游戏、大型软件对硬盘的读写需求量较ED/EM高很多，你们是不是也不准备用了？

频繁读写本来就是硬盘设计功能之一，按你们的道理来看，那最好就8要用硬盘了~~~~~

偶机器13个IDE硬盘（使用了1394 RAID硬盘柜），使用了快2年，基本没有关机过~每天仅上行基本保持在4500K的速度下（FTP、ED、BT、WINMX），还不包括自己使用其他软件、同时处于4500K下行速度。现在其中任何一个硬盘都没有出问题。对此难道说仅仅是我RP粉好？

今天去德国论坛上看到了高人们测试IBM 75系列的最终结果报告~

IBM硬盘在电机逻辑控制设计上的确存在缺陷，磁头读写逻辑变换时可能出现打盘（磁头过于接进磁盘表面，被逻辑保护电路强制取消，明显的会出现铛、铛声）。一般来说打盘问题多出现于供电不正常或工作时外部冲击，正常情况下很少会出现这种问题。长期出现打盘，很快会导致磁头易位、电机轴承中心位误差过大、电机供电控制DSP和逻辑控制DSP的完蛋。这种“死亡”很可能是没有前兆的，电机供电控制DSP如果突然挂了，硬盘就再也不可能启动（如果在启动瞬间挂掉的，很可能导致磁头飞盘－磁头直接接触数据存储性盘面，磁盘表面出现很大的物理性毁坏）。

这个设计缺陷存在与基本全部出厂期在34周内的75系列硬盘，甚至包括了最早出现的部分60系列。

IBM对此的认识不足是可以理解的。75系列的玻璃盘面设计在很大程度上没有进行足够的相关测试，但这些测试都是在出问题后才开始考虑到的。按照传统硬盘碟片设计方案来说，这些所谓“额外”的测试很多都从来没有进行过。75系列出问题也是在大约开始销售后20周才陆陆续续出现，特别在对于中国用户的投诉，IBM最开始是以水货问题论处。

看了以上内容，偶并不想多说什么。希望各位不用一棒子打死IBM的全部东西...

最后说一下，并不是说有75系列都有问题，34周后出厂的就已经修正了这个问题。好像IBM硬盘是有工具可以查看出厂日期的～～～～

我不否认其他操作也会伤害硬盘 比如文件读写等
但我坚持ed会损伤硬盘这个观点

某人看清楚再反驳
不要无的放失

IDE硬盘的工作时间5W小时无故障是指连续工作，这个指标并不是由硬盘生产厂商决定的，是由ISO定的白皮书工业指标！SCSI在设计指标上较IDE高2－3倍，且支持热拔插，这就意味着其将有更好的电源适应性。在超过连续安全工作时间指标后，并不意味着硬盘就会出问题,硬盘自身也会防止这种问题的出现!
哦？
我很有兴趣了解ISO白皮书关于“5W个无故障连续工作时间”这个标准的详细资料 比如工作的强度是多少。
还有

请问有哪一个硬盘生产商在一款产品销售前真正作过5W个小时连续工作测试？
有吗？
有的话请举例
5W个小时什么概念
5年半还多
3个摩尔周期还多了

5W小时只是只是一个抽样值后经数学模型理想化后的理论值



不论IBM问题结果到底如何，我所知道的出问题的硬盘都是在IBM转全部生产线给东芝后出现的。对于东芝本身来说，我绝对相信其质量。但为什么会出问题，估计是在交接后，东芝需要时间来适应IBM的技术，毕竟东芝在接手IBM桌面硬盘生产前全部都是生产笔记本硬盘。笔记本硬盘在设计、生产上和桌面用硬盘完全是两回事情～～～
你是否应该为你先前所说的话向看了这贴的而受你误导的人道歉呢？

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最初由 星座的海洋 发布
今年这么热，7200转的硬盘随便都能达到60-80摄氏度，楼主不要说没见过，用过的3个希捷7200转硬盘，因为热三个月不到就出坏区。

你的电源捏？虾米牌子？你看过在如此温度下的降压幅度吗？

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最初由 dinosaur 发布
我认为硬盘损坏的另一大原因是碰撞，特别是工作中为了插线把电脑拖来拖去。
一般来说，正常使用硬盘是不会有问题的

绝对同意大大的意见～～我的硬盘因为我的“暴力”，已经被换掉了，它的寿命只有一年啊～～55